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Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos

Guillermina González Mancera, María Eugenia Noguez Amaya

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UNAM, Facultad de Química img Link Publisher

Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Allgemeines, Lexika

Beschreibung

El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.

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Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, Universidad Nacional Autónoma de México, Microscopio electrónico, Microanálisis químico, UNAM